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当前位置:百赢彩票APP下载 > 产品中心 > 产品分类 >PCT|HAST高压加速老化试验箱
HAST高压加速老化试验箱用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。
HAST温湿度压力老化箱广泛应用于医疗器件消毒,工业上线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测.
PCT老化试验箱适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板,多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测,相关之产品作加速寿命试验。
适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板,多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测,相关之产品作加速寿命试验,非饱和高压加速老化试验箱使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节,测试其制品的耐厌性、气密性。
饱和高压加速老化试验箱适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板,多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测,相关之产品作加速寿命试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节,测试其制品的耐厌性、气密性。
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